二川 清   (1949-)

二川 清(にかわ きよし、1949年 - )は、日本の技術者である。 大阪府出身。 現在、一般的に使われている半導体故障解析技術である、IR-OBIRCHの開発者の一人として知られる。 大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。 工学博士。 現、金沢工業大学大学院工学研究科客員。 [主な著書] 『はじめてのデバイス評価技術』(工業調査会、2000年) 『故障解析技術』(日科技連出版社、2008年) 『LSIテスティングハンドブック』(編著、オーム社、2008年) 『信頼性問題集』(編著、日科技連出版社、2009年) 『LSIの信頼性』(編著、日科技連出版社、2010年) 『新版 LSI...

「Wikipedia」より

この人物の情報

人物名ヨミ ニカワ キヨシ
人物別名 二川清
生年 1949年
没年 -
職業・経歴等 技術者

本の一覧

タイトル 著作者等 出版元 刊行年月
信頼性七つ道具 二川清編著 ; 石田勉 [ほか] 著 日科技連出版社
2020.8
信頼性七つ道具 二川清編著 ; 石田勉 [ほか] 著 日科技連出版社
2020.8
半導体デバイスの不良・故障解析技術 二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著 日科技連出版社
2019.12
はじめてのデバイス評価技術 二川清 著 森北
2012.9
LSI故障解析技術 二川清 著 日科技連出版社
2011.9
LSIの信頼性 二川清 編著 ; 塩野登, 横川慎二, 福田保裕, 三井泰裕 著 日科技連出版社
2010.10
信頼性問題集 二川清 編著 日科技連出版社
2009.12
故障解析技術 二川清 著 日科技連出版社
2008.10
LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー 二川清 著 工業調査会
2007.11
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