LSI故障解析技術

二川清 著

LSIの故障解析を実施する際や、故障解析技術を研究開発する際に必要な知識・経験は多岐にわたるが、本書の中心は故障解析技術そのものである。本書では、最新の技術を解説するとともに、広く用されている従来からの技術も紹介する。

「BOOKデータベース」より

[目次]

  • 第1章 LSIの故障とその特徴(故障解析に関連するLSIのトレンド
  • LSIの故障の特徴 ほか)
  • 第2章 LSI故障解析技術概論(基本の「き」
  • 故障解析の手順 ほか)
  • 第3章 故障解析事例(DRAMのIR‐OBIRCHなどによる解析事例
  • ロジックLSI(システムLSI)の解析事例 ほか)
  • 第4章 新しい故障解析関連手法の開発動向(光を利用した故障解析技術発展の流れと最近の動向
  • OBIRCH関連手法発展の流れと最近の動向 ほか)

「BOOKデータベース」より

この本の情報

書名 LSI故障解析技術
著作者等 二川 清
書名ヨミ LSI コショウ カイセキ ギジュツ
書名別名 LSI故障解析技術のすべて
出版元 日科技連出版社
刊行年月 2011.9
版表示 新版
ページ数 194p
大きさ 21cm
ISBN 978-4-8171-9414-5
NCID BB07426588
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全国書誌番号
21988485
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言語 日本語
出版国 日本
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