新TOEICテスト一発で正解がわかる

キム・デギュン 著

PART別に「問題のパターン」を挙げ、正解を一発で導き出すための攻略法を詳しく解説しています。スコアアップに欠かせない語彙力を養うために、各PARTで頻出する単熟語約1,500語が収録されています。新TOEICの問題形式と内容に完璧にあった模擬テスト200問が巻末に収録されています。付属の音声CDには、アメリカ・イギリス・カナダ・オーストラリアのネイティブのナレーションが吹き込まれています。

「BOOKデータベース」より

この本の情報

書名 新TOEICテスト一発で正解がわかる
著作者等 キム デギュン
書名ヨミ シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル
出版元 旺文社
刊行年月 2006.1
ページ数 319p
大きさ 21cm
付随資料 CD1枚 (12cm)
ISBN 4010934905
NCID BA75816192
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全国書誌番号
20974531
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言語 日本語
出版国 日本
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