Unified methods for VLSI simulation and test generation

by Kwang-Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal

この本の情報

書名 Unified methods for VLSI simulation and test generation
著作者等 Agrawal, Vishwani D.
Cheng, Kwang-Ting
シリーズ名 The Kluwer international series in engineering and computer science
出版元 Kluwer Academic Publishers
刊行年月 c1989
ページ数 xii, 148 p.
大きさ 25 cm
ISBN 0792390253
NCID BA07295788
※クリックでCiNii Booksを表示
言語 英語
出版国 アメリカ合衆国
この本を: 
このエントリーをはてなブックマークに追加

このページを印刷

外部サイトで検索

この本と繋がる本を検索

ウィキペディアから連想