|
材料の評価システム
堂山昌男, 山本良一 編 ; 岸輝雄 ほか著
[目次]
- 1. 材料のその場評価手法(電子線回折による材料評価
- オージェ電子分光による材料評価
- エネルギー損失分光による材料評価)
- 2. 半導体材料プロセスの評価法(半導体材料プロセスとデバイス製作
- 接合容量による評価
- イオン注入層の評価)
- 3. 力学的性質評価法(従来の材料試験法と破壊力学的試験法
- 引張試験、圧縮試験
- 曲げ試験、抗折試験 ほか)
- 4. 非破壊評価法(超音波探傷試験
- 放射線透過試験
- 磁粉探傷試験
- 浸透探傷試験
- 電磁誘導試験)
- 5. アコースティックエミッションによる材料評価法(AEの原理
- AE計測システム
- AE信号処理パラメータの意味
- AEの発生機構
- 破壊のAE ほか)
「BOOKデータベース」より
|
書名 |
材料の評価システム |
著作者等 |
堂山 昌男
山本 良一
岸 輝雄
大串 秀世
大塚 正久
小宮 祥男
田上 尚男
小間 篤
|
書名ヨミ |
ザイリョウ ノ ヒョウカ システム |
シリーズ名 |
材料テクノロジー 8
|
出版元 |
東京大学出版会 |
刊行年月 |
1987.7 |
ページ数 |
199p |
大きさ |
21cm |
ISBN |
4130641581
|
NCID |
BN01194768
※クリックでCiNii Booksを表示
|
全国書誌番号
|
87050235
※クリックで国立国会図書館サーチを表示
|
言語 |
日本語 |
出版国 |
日本 |
この本を:
|
件が連想されています
|