Characterization of defects in materials : symposium held December 1-2, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A.

editors, Richard W. Siegel, Julia R. Weertman, Robert Sinclair

この本の情報

書名 Characterization of defects in materials : symposium held December 1-2, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A.
著作者等 Materials Research Society
Materials Research Society. Meeting
Siegel, Richard W.
Sinclair, Robert
Symposium on the Characterization of Defects in Materials
Weertman, Julia R.
シリーズ名 Materials Research Society symposium proceedings
出版元 Materials Research Society
刊行年月 c1987
ページ数 xv, 532 p.
大きさ 24 cm
ISBN 0931837472
NCID BA01314391
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言語 英語
出版国 アメリカ合衆国
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