Principles of analytical electron microscopy

edited by David C. Joy, Alton D. Romig, Jr. and Joseph I. Goldstein

[目次]

  • 1 Electron Beam-Specimen Interactions in the Analytical Electron Microscope.- 2 Introductory Electron Optics.- 3 Principles of Image Formation.- 4 Principles of X-Ray Energy-Dispersive Spectrometry in the Analytical Electron Microscope.- 5 Quantitative X-Ray Analysis.- 6 EDS Quantitation and Application to Biology.- 7 The Basic Principles of EELS.- 8 Quantitative Microanalysis Using EELS.- 9 Electron Microdiffraction.- 10 Barriers to AEM: Contamination and Etching.- 11 Radiation Effects Encountered by Inorganic Materials in Analytical Electron Microscopy.- 12 High-Resolution Microanalysis and Energy-Filtered Imaging in Biology.- 13 A Critique of the Continuum Normalization Method used for Biological X-Ray Microanalysis.

「Nielsen BookData」より

この本の情報

書名 Principles of analytical electron microscopy
著作者等 Goldstein, Joseph
Joy, David C.
Romig, Alton D.
Joy D.C.
出版元 Plenum Press
刊行年月 c1986
ページ数 xvi, 448 p.
大きさ 26 cm
ISBN 0306423871
NCID BA00591396
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言語 英語
出版国 アメリカ合衆国
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