Fundamentals of surface and thin film analysis

Leonard C. Feldman, James W. Mayer

この本の情報

書名 Fundamentals of surface and thin film analysis
著作者等 Feldman, Leonard C
Mayer, James W
出版元 North-Holland : Elsevier Science Pub.
刊行年月 c1986
ページ数 xviii, 352 p.
大きさ 24 cm
ISBN 0444009892
NCID BA0028903X
※クリックでCiNii Booksを表示
言語 英語
出版国 アメリカ合衆国
この本を: 
このエントリーをはてなブックマークに追加

このページを印刷

外部サイトで検索

この本と繋がる本を検索

ウィキペディアから連想