Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Dale E. Newbury ... [et al.]

[目次]

  • 1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.

「Nielsen BookData」より

この本の情報

書名 Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
著作者等 Newbury, Dale E.
Fiori C.E.
Goldstein Joseph
Joy D.C.
Newbury Dale E. (National Institute of Standards and Technology Gaithersburg MD USA)
Echlin Patrick
出版元 Plenum Press
刊行年月 c1986
ページ数 xii, 454 p.
大きさ 24 cm
ISBN 0306421402
NCID BA00238640
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言語 英語
出版国 アメリカ合衆国
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