X線分析の進歩  19

日本分析化学会X線分析研究懇談会【編】

[目次]

  • 蛍光X線スペクトル
  • X線スペトクルによる状態分析
  • EXAFSによる状態分析
  • XPS分析
  • 微量分析
  • 環境・生体試料などの蛍光X線分析
  • 薄膜X線回折
  • 装置
  • 既掲載X線回折図形索引No.1(Vol.8)〜No.10(Vol.18)(物質名と化学式による)
  • 1986年X線分析のあゆみ
  • X線分析関係機器資料

「BOOKデータベース」より

この本の情報

書名 X線分析の進歩
著作者等 日本分析化学会X線分析研究懇談会
書名ヨミ Xセンブンセキノシンポ : 19
シリーズ名 X線工業分析 第23集
巻冊次 19
出版元 アグネ
アグネ技術センター
刊行年月 1988.3.31
ページ数 353,47p
大きさ 26cm(B5)
ISBN 4750708070
NCID BN00358542
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言語 日本語
出版国 日本
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