ハイテク時代の基礎技術と応用

坪井 正道;田中 誠之;田隅 三生【編】

[目次]

  • 測定装置の現状と今後の課題(南茂夫)
  • 過渡および時間分解ラマン分光法(浜口宏夫)
  • マトリックス単離赤外分光学の現状-振動励起分子の挙動-(中田宗隆)
  • 低振動数ラマン分光測定方法とその応用(冨永靖徳)
  • 光熱変換分光法とその応用(寺前紀夫)
  • GC/FT‐IR,LC/FT‐IR(栂野清作)
  • FT‐IRによる不安定新分子種の捕捉とその同定(浜田嘉昭)
  • 最近のFT‐IR ATR法の表面研究への応用(石田初男)
  • ラマン光学活性(ROA)(樋口精一郎)
  • 半導体分析への応用(新井敏弘)
  • FT‐IRおよびラマン分光による表面・局所分析(黒崎和夫)
  • 塩基配列に依存したDNA構造の多様性:ラマン分光による研究(西村善文)
  • DNA塩基の振動形はどこまではっきりしたか?-非経験的力場の導入-(平川暁子)

「BOOKデータベース」より

この本の情報

書名 ハイテク時代の基礎技術と応用
著作者等 田中 誠之
田隅 三生
坪井 正道
書名ヨミ ハイテクジダイノキソギジユツトオウヨウ
シリーズ名 赤外・ラマン・振動 3
出版元 南江堂
刊行年月 1986.7.1
ページ数 127p
大きさ 26cm(B5)
言語 日本語
出版国 日本
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