はじめてのデバイス評価技術

二川清 著

半導体デバイス評価を学ぶならこの一冊で十分。評価フェーズごとの詳細な解説!知りたい情報が詰まってる。

「BOOKデータベース」より

[目次]

  • 第1章 半導体デバイスの特徴
  • 第2章 デバイス評価技術概要
  • 第3章 信頼性試験
  • 第4章 故障解析
  • 第5章 寿命データ解析
  • 第6章 具体例・応用事例

「BOOKデータベース」より

この本の情報

書名 はじめてのデバイス評価技術
著作者等 二川 清
書名ヨミ ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ
書名別名 Hajimete no debaisu hyoka gijutsu
出版元 森北
刊行年月 2012.9
版表示 第2版.
ページ数 11,179p
大きさ 22cm
ISBN 978-4-627-77442-1
NCID BB10206954
※クリックでCiNii Booksを表示
全国書誌番号
22144027
※クリックで国立国会図書館サーチを表示
言語 日本語
出版国 日本
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