上級者のためのTOEIC TEST総合対策

Cabrita Zeef;Phillips Jeff;Phillips Jayne;Smith David【著】;石井 隆之;喜多 尊史【監修】

実際のTOEICでは、受験する試験や個々の問題によって難易度に差がある。本書では、中級者(TOEICスコア600‐800点)から上級者(800点以上)の学習者がハイレベルな問題を大量に解いていくことで、実際のTOEICでどのようなレベルの問題が出題されても自信をもって対処できるようになっていただくことを大きな目的としている。

「BOOKデータベース」より

この本の情報

書名 上級者のためのTOEIC TEST総合対策
著作者等 喜多 尊史
石井 隆之
Phillips Jayne
Phillips Jeff
Smith David
Cabrita Zeef
書名ヨミ ジョウキュウシャノタメノトーイックテストソウゴウタイサク
出版元 マクミランランゲージハウス
刊行年月 2005.4.1
ページ数 473p
大きさ 26cm(B5)
付随資料 3 CD
ISBN 4777360237
NCID BA72703586
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言語 日本語
出版国 日本
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