X線分析の進歩  33

日本分析化学会X線分析研究懇談会【編】

[目次]

  • 1 総説・解説
  • 2 全反射、反射率、定在波、ナノ、表面・界面
  • 3 X線光学・顕微鏡
  • 4 化学状態分析
  • 5 装置
  • 6 データ処理
  • 7 土壌・環境分析
  • 8 既掲載X線粉末回析図形索引No.1(Vol.8)〜No.10(Vol.18)(物質名と化学式名による)
  • 9 2001年X線分析のあゆみ

「BOOKデータベース」より

この本の情報

書名 X線分析の進歩
著作者等 日本分析化学会X線分析研究懇談会
書名ヨミ エックスセンブンセキノシンポ : 33
巻冊次 33
出版元 アグネ技術センター
刊行年月 2002.3.31
ページ数
大きさ 26cm
ISBN 4900041971
ISSN 09117806
NCID BN00358542
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言語 日本語
出版国 日本
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