固体表面キャラクタリゼーションの実際 : ナノ材料に利用するスペクトロスコピー

田中庸裕, 山下弘巳 編

[目次]

• 固体表面・固体材料のキャラクタリゼーション
• X線一般・XRD(X線回折)
• XPS(X線光電子分光)
• XAFS(X線吸収微細構造)
• UV/VIS(紫外/可視)・PLS(光ルミネセンス)
• IR(赤外)・Raman(ラマン)分光法
• ESR(電子スピン共鳴)
• NMR(核磁気共鳴)
• TEM(透過電子顕微鏡)・SEM(走査電子顕微鏡)
• STM(走査トンネル顕微鏡)・AFM(原子間力顕微鏡)
• 昇温スペクトル
• MS(質量分析)・SIMS(二次イオン金属分析)
• CV(サイクリックボルタンメトリー)
• 「目で学ぶ」ケーススタディー

「BOOKデータベース」より