固体表面キャラクタリゼーションの実際 : ナノ材料に利用するスペクトロスコピー

田中庸裕, 山下弘巳 編

何が測定でき、何がわかるか?この疑問に答えるナノテク研究者必携のコンパクトな入門書!ナノ材料の表面構造と物性を観察・評価するために、不可欠なスペクトロスコピーの測定技術と解釈方法をそれぞれの専門家がやさしく解説。光触媒、カーボンナノチューブ、燃料電池材料などの先端材料のキャラクタリゼーションが一目でわかる。

「BOOKデータベース」より

[目次]

  • 固体表面・固体材料のキャラクタリゼーション
  • X線一般・XRD(X線回折)
  • XPS(X線光電子分光)
  • XAFS(X線吸収微細構造)
  • UV/VIS(紫外/可視)・PLS(光ルミネセンス)
  • IR(赤外)・Raman(ラマン)分光法
  • ESR(電子スピン共鳴)
  • NMR(核磁気共鳴)
  • TEM(透過電子顕微鏡)・SEM(走査電子顕微鏡)
  • STM(走査トンネル顕微鏡)・AFM(原子間力顕微鏡)
  • 昇温スペクトル
  • MS(質量分析)・SIMS(二次イオン金属分析)
  • CV(サイクリックボルタンメトリー)
  • 「目で学ぶ」ケーススタディー

「BOOKデータベース」より

この本の情報

書名 固体表面キャラクタリゼーションの実際 : ナノ材料に利用するスペクトロスコピー
著作者等 山下 弘巳
田中 庸裕
書名ヨミ コタイ ヒョウメン キャラクタリゼーション ノ ジッサイ : ナノ ザイリョウ ニ リヨウスル スペクトロスコピー
出版元 講談社
刊行年月 2005.2
ページ数 196p
大きさ 21cm
ISBN 4061543253
NCID BA70850513
※クリックでCiNii Booksを表示
全国書誌番号
20742286
※クリックで国立国会図書館サーチを表示
言語 日本語
出版国 日本
この本を: 
このエントリーをはてなブックマークに追加

このページを印刷

外部サイトで検索

この本と繋がる本を検索

ウィキペディアから連想