半導体物性測定法

今村舜仁, 伝田精一, 山香英三 共著

[目次]

• 目次
• 1. 電気的測定法
• 1.1 電気伝導度 (山香英三) / p1
• 1.2 熱的測定 (山香英三) / p12
• 1.3 ドリフト移動度 (伝田精一) / p24
• 1.4 少数キャリアの寿命 (垂井康夫) / p31
• 1.5 表面現象 (今村舜仁) / p46
• 1.6 雜音 (今村舜仁) / p63
• 1.7 接合特性 (伝田精一) / p72
• 1.8 試料処理 (伝田精一) / p96
• 2. 電流磁気効果(山香英三)
• 2.1 ホール効果 / p109
• 2.2 磁気抵抗効果 / p123
• 2.3 その他の電流磁気効果 / p126
• 2.4 低温における測定 / p128
• 2.5 特殊な電子回路 / p145
• 3. マイクロ波測定法(山香英三)
• 3.1 マイクロ波測定技術 / p155
• 3.2 常磁性共鳴吸収 / p169
• 3.3 サイクロトロン共鳴吸収 / p184
• 3.4 電気伝導度 / p193
• 3.5 ホール効果 / p203
• 4. 光学的測定(今村舜仁)
• 4.1 光に関する定義と基本用具 / p209
• 4.2 半導体の光学的性質 / p231
• 4.3 光電効果 / p249
• 4.4 ルミネッセンス / p270
• 5. 観察(飯塚隆・伝田精一)
• 5.1 基礎技術 / p281
• 5.2 結晶軸決定法 / p301
• 5.3 欠陥の観察 / p311
• 付表 / p331
• 索引 / 巻末

「国立国会図書館デジタルコレクション」より