半導体物性測定法

今村舜仁, 伝田精一, 山香英三 共著

[目次]

  • 目次
  • 1. 電気的測定法
  • 1.1 電気伝導度 (山香英三) / p1
  • 1.2 熱的測定 (山香英三) / p12
  • 1.3 ドリフト移動度 (伝田精一) / p24
  • 1.4 少数キャリアの寿命 (垂井康夫) / p31
  • 1.5 表面現象 (今村舜仁) / p46
  • 1.6 雜音 (今村舜仁) / p63
  • 1.7 接合特性 (伝田精一) / p72
  • 1.8 試料処理 (伝田精一) / p96
  • 2. 電流磁気効果(山香英三)
  • 2.1 ホール効果 / p109
  • 2.2 磁気抵抗効果 / p123
  • 2.3 その他の電流磁気効果 / p126
  • 2.4 低温における測定 / p128
  • 2.5 特殊な電子回路 / p145
  • 3. マイクロ波測定法(山香英三)
  • 3.1 マイクロ波測定技術 / p155
  • 3.2 常磁性共鳴吸収 / p169
  • 3.3 サイクロトロン共鳴吸収 / p184
  • 3.4 電気伝導度 / p193
  • 3.5 ホール効果 / p203
  • 4. 光学的測定(今村舜仁)
  • 4.1 光に関する定義と基本用具 / p209
  • 4.2 半導体の光学的性質 / p231
  • 4.3 光電効果 / p249
  • 4.4 ルミネッセンス / p270
  • 5. 観察(飯塚隆・伝田精一)
  • 5.1 基礎技術 / p281
  • 5.2 結晶軸決定法 / p301
  • 5.3 欠陥の観察 / p311
  • 付表 / p331
  • 索引 / 巻末

「国立国会図書館デジタルコレクション」より

この本の情報

書名 半導体物性測定法
著作者等 今村 舜仁
伝田 精一
山香 英三
書名ヨミ ハンドウタイ ブッセイ ソクテイホウ
出版元 日刊工業新聞社
刊行年月 1965
ページ数 332p
大きさ 22cm
NCID BN03206438
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全国書誌番号
65003402
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言語 日本語
出版国 日本
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