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先端材料評価のための電子顕微鏡技法
日本電子顕微鏡学会関東支部 編
[目次]
- 基礎技術編(構造解析法
- 分析技法
- 特殊観察法
- 試料作製法
- 画像記録・処理)
- 応用編(セラミックス
- 半導体
- イオン結晶
- 金属
- 有機高分子
- 無機材料)
「BOOKデータベース」より
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書名 |
先端材料評価のための電子顕微鏡技法 |
著作者等 |
日本電子顕微鏡学会
日本電子顕微鏡学会関東支部
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書名ヨミ |
センタン ザイリョウ ヒョウカ ノ タメノ デンシ ケンビキョウ ギホウ |
出版元 |
朝倉書店 |
刊行年月 |
1991.12 |
ページ数 |
382p |
大きさ |
27cm |
ISBN |
4254200536
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NCID |
BN07014472
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全国書誌番号
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92017531
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言語 |
日本語 |
出版国 |
日本 |
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