Records of the 2004 International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : MTDT 2004 : 9-10 August, 2004, San Jose, California, USA

edited by R. Rajsuman and T. Wik ; sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Test Technology Technical Council, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI ; in cooperation with IEEE Solid-State Circuits Society

この本の情報

書名 Records of the 2004 International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : MTDT 2004 : 9-10 August, 2004, San Jose, California, USA
著作者等 IEEE Computer Society
IEEE Computer Society. Technical Committee on VLSI
IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing
IEEE Solid-State Circuits Society
Rajsuman, Rochit
Wik, T. (Thomas)
書名別名 Records of the 2004 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing
出版元 IEEE Computer Society
刊行年月 c2004
ページ数 vii, 121 p.
大きさ 28 cm
ISBN 0769521932
NCID BA77205735
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言語 英語
出版国 アメリカ合衆国
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