Development of a low-profile atomic force microscope and its application to force measurements,and of a twisting force detection method and beam-tracking method

中野勝志[著]

[目次]

  • 目次 / p1
  • 略語一覧表 / p5
  • 第1章 序論 / p6
  • 1.1 原子間力顕微鏡について / p6
  • 1.2 AFMの原理と主要技術 / p7
  • 1.3 AFMの測定モード / p9
  • 1.4 本論文の課題 / p12
  • 第2章 薄型AFMの開発 / p18
  • 2.1 従来のAFMの問題点 / p18
  • 2.2 薄型AFMの構成 / p19
  • 2.3 弾性ヒンジの設計最適化 / p21
  • 2.4 試作スキャナーの評価 / p31
  • 2.5 スキャナの周波数特性と高速スキャン / p34
  • 2.6 まとめ / p38
  • 第3章 フォーカスカーブマッピングシステムの開発 / p67
  • 3.1 はじめに / p67
  • 3.2 フォースカーブの自動測定 / p68
  • 3.3 フォースカーブの非線形性補正 / p71
  • 3.4 フォースカーブマッピングの実験方法と試料調整法 / p72
  • 3.5 フォースカーブマッピング結果 / p74
  • 3.6 まとめ / p75
  • 第4章 フォースカーブによるタンパク間の力測定 / p88
  • 4.1 はじめに / p88
  • 4.2 実験方法 / p89
  • 4.3 フォースカーブ測定 / p91
  • 4.4 まとめ / p96
  • 第5章 ツイストプローブの開発 / p102
  • 5.1 はじめに / p102
  • 5.2 薄膜探針とその力検出法 / p103
  • 5.3 FEMシミュレーション / p106
  • 5.4 TPの作製プロセス / p108
  • 5.5 実験装置条件 / p109
  • 5.6 振幅の距離依存性測定 / p109
  • 5.7 TPによる形状のイメージング / p111
  • 5.8 今後の改良点 / p112
  • 5.9 まとめ / p113
  • 第6章 3Dビームトラッキング法の開発 / p123
  • 6.1 はじめに / p123
  • 6.2 3Dビームトラッキングの機構 / p126
  • 6.3 3Dビームトラッキング機構の原理 / p127
  • 6.4 アライメント誤差による擬プローブたわみ信号の見積もり / p128
  • 6.5 トラッキング動作の確認 / p132
  • 6.6 トラッキングエラーによる擬プローブたわみ信号の測定 / p133
  • 6.7 イメージングの実験 / p133
  • 6.8 トラッキングスキャナーの自動測定への適応の可能性 / p133
  • 6.9 まとめ / p134
  • 第7章 薄膜マイクロナイフの開発 / p145
  • 7.1 はじめに / p145
  • 7.2 薄膜マイクロナイフの設計と微細加工 / p146
  • 7.3 切断実験 / p147
  • 7.4 薄膜マイクロナイフの強度計算 / p148
  • 7.5 まとめ / p149
  • 第8章 総括 / p160
  • 学術論文及び口頭発表目録 / p165
  • 謝辞 / p167

「国立国会図書館デジタルコレクション」より

この本の情報

書名 Development of a low-profile atomic force microscope and its application to force measurements,and of a twisting force detection method and beam-tracking method
著作者等 中野 勝志
書名別名 原子間力顕微鏡の薄型化と力学測定への応用及び,ねじれ振動による距離検出法とビームトラッキング法の開発
出版元 中野勝志
刊行年月 [2000]
ページ数 167p
大きさ 31cm
NCID BA58646595
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言語 英語
出版国 日本
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