浮遊帯溶融法によるビスマス系バルク超電導体の特性向上に関する研究

道下和男 [著]

[目次]

  • 目次
  • 第1章 序論 / p1
  • 1.1 研究の背景 / p1
  • 1.2 本研究の概要 / p6
  • 引用文献 / p8
  • 第2章 浮遊帯溶融法による予備的検討 / p11
  • 2.1 まえがき / p11
  • 2.2 浮遊帯溶融法装置の概要 / p12
  • 2.3 試料作製と評価の方法 / p15
  • 2.4 成長速度と仕込組成の影響 / p18
  • 2.5 試料の配向方向について / p23
  • 2.6 原料棒密度の影響 / p26
  • 2.7 考察 / p28
  • 2.8 まとめ / p30
  • 引用文献 / p30
  • 第3章 アニール条件の検討 / p32
  • 3.1 まえがき / p32
  • 3.2 アニール実験及び評価の方法 / p32
  • 3.3 臨界温度Tcと臨界電流Icに及ぼすアニールの影響 / p33
  • 3.4 直流磁化率に及ぼすアニールの影響 / p35
  • 3.5 複素帯磁率に及ぼすアニールの影響 / p36
  • 3.6 アニールによる微構造変化 / p42
  • 3.7 考察 / p46
  • 3.8 まとめ / p48
  • 引用文献 / p48
  • 第4章 銀添加の検討 / p50
  • 4.1 まえがき / p50
  • 4.2 銀添加試料作製及び評価の方法 / p50
  • 4.3 超電導特性に及ぼす銀添加の影響 / p53
  • 4.4 接触抵抗率に及ぼす銀添加の影響 / p55
  • 4.5 機械的特性に及ぼす銀添加の影響 / p59
  • 4.6 熱膨張率に及ぼす銀添加の影響 / p62
  • 4.7 まとめ / p62
  • 引用文献 / p63
  • 第5章 Bi₂Sr₂CaCu₂Ox組成近傍における仕込組成の検討 / p66
  • 5.1 まえがき / p66
  • 5.2 検討組成及び評価方法 / p66
  • 5.3 仕込組成が微構造に及ぼす影響 / p69
  • 5.4 臨界電流Icの測定結果 / p73
  • 5.5 試料の配向性について / p75
  • 5.6 成長速度の検討 / p82
  • 5.7 考察 / p83
  • 5.8 まとめ / p85
  • 引用文献 / p85
  • 第6章 c軸配向組織の形成機構について / p87
  • 6.1 まえがき / p87
  • 6.2 急冷実験及びDTA分析の方法 / p87
  • 6.3 急冷実験の結果 / p87
  • 6.4 DTA分析結果 / p92
  • 6.5 まとめ / p95
  • 第7章 接触抵抗率低減の検討 / p96
  • 7.1 まえがき / p96
  • 7.2 電極形成及び評価の方法 / p96
  • 7.3 銀スパッタ蒸着条件の検討結果 / p97
  • 7.4 考察 / p101
  • 7.5 まとめ / p107
  • 引用文献 / p107
  • 第8章 電流リードへの適用 / p109
  • 8.1 まえがき / p109
  • 8.2 銀箔による接触抵抗率低減の検討 / p112
  • 8.3 電流リードの試作方法 / p113
  • 8.4 電流リードの試作結果 / p115
  • 8.5 電流リードの通電電流及び熱侵入量について / p116
  • 8.6 まとめ / p117
  • 8.7 付録 / p118
  • 引用文献 / p120
  • 第9章 総括 / p122
  • 9.1 結果の概要 / p122
  • 9.2 本研究の工学的意義 / p124
  • 9.3 今後の課題 / p125
  • 謝辞 / p127
  • 研究業績 / p128

「国立国会図書館デジタルコレクション」より

この本の情報

書名 浮遊帯溶融法によるビスマス系バルク超電導体の特性向上に関する研究
著作者等 道下 和男
書名ヨミ フユウタイ ヨウユウホウ ニ ヨル ビスマスケイ バルク チョウデンドウタイ ノ トクセイ コウジョウ ニ カンスル ケンキュウ
出版元 [出版者不明]
刊行年月 [1994]
ページ数 130p
大きさ 30cm
NCID BB14494351
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言語 日本語
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